產品中心
PRODUCT CENTER
當前位置 : 首頁 > 產品中心 > 實驗室儀器> 性能測試裝置> TE100
熱阻測試儀
Product Center
產品中心

外觀圖

  • 外觀圖

熱阻測試儀
TE100
功率半導體陶瓷基板的熱阻測試
特點
  • 快速的測試/分析功能 ;
  • 熱阻測試方式的國際標準化(ISO4825-1: 2023-01) ;
  • 通過自研SiC芯片模擬功率芯片的發熱 ;
  • TEG芯片使用鉑金探頭 ,確保了溫度測量結果的精準與穩定 ;
  • 單個基板材料以及模塊結構的熱阻都能夠測量 。
我要谘詢 樣機試用

應用

· 陶瓷基板 ;

· 封裝焊接材料 ;

· 界麵材料 ;

· 散熱片 ;

 ……


測試方法

0129-3.png


測試結果

參考① 基板材質(Si3N4)相同 ,厚度不同 ,則熱特性不同 。

參考1.png

參考② 基板厚度相同 ,材質不同 ,則熱特性不同 。以Si3N4 、AlN 、Al2O3三種材質做比較 。


參考2.png


分析軟件

· 簡單的操作畫麵,由“設置/測量/結果/幫助”構成 。

· 集中管理TEG芯片的加熱和冷卻水循環裝置的冷卻 。

測量畫麵.png


規格

規格參數.png


信息提交

公司名稱(必填)
請填寫公司全稱
聯係電話(必填)
手機/固話請填寫分機號
聯係郵箱(必填)
郵箱格式xxx@xxx.xxx
聯係人(必填)
請填寫您的真實姓名
驗證碼(必填)
點擊刷新 請填寫圖片驗證碼

文件下載

地址
上海市徐匯區桂箐路65號新研大廈B座1001-1002室
電話
021-6443-5319
傳真
021-5452-0268
電子郵箱
info@yamato-shanghai.com

版權所有 :雅馬拓科技貿易(上海)有限公司   滬ICP備10207848號-1   1246389二維碼.jpg